该当如何测量芯片优劣
2024-11-11哪样测量芯片好坏 1. 反省供电：直接用万用表测量VCC和GND的电平，是不是符合要求。要是VCC相差5V或3.3V无数，检查7805或另一个稳压、滤波电路的输出。 2. 检查晶振…… 以此我也不明了怎么检查晶振好坏，我的道道儿正如土：貌似是多换几个晶振上电搞搞，左不过石英晶振犯不上无数钱：） 3. 检查RESET引脚电平逻辑，上心所用机型是高电平复位还是低电平复位的，只要MCU径直处于反复被复位状态，呵呵，结荚明显。 4. 若是规划时，先后是从扩展的表面ROM开始运行的，还需检查EA脚。
主流温度测量方案对比数据
2024-11-10温度测量方案对比分析 一、概述 温度测量存在于我们生活与工作的方方面面，我们可以测量单点的温度体现整体环境温度，也可以测量多点温度，综合反应环境情况。本文针对单点测量的情况进行分析，如何从一点扩展到多点不做讨论。 我们针对以热电偶，热电阻，半导体温度传感器为前端，MCU为数据处理核心的电路测量系统。首先分析其基本结构，再大致分析其特点与成本。我们的目标就是得到一个数字的温度信息，比如测量室温是25摄氏度，我们认为在单片机内得到这个温度，算是我们工作完成，至于这个数字如何显示出来，或者通过有线无
五种三极管测量方法分享
2024-11-09在生活中具备诸多应用，很多朋友对三极管测量存在一定困惑，无法在三极管测量方面取得相关进展。本文将从五个方面对三极管测量经验加以总结，如果你对三极管测量方法具备一定兴趣，不妨继续往下阅读正文哦。 1. 在路电压检测判断法 (1)在实际应用中、小功率三极管多直接焊接在印刷电路板上，由于元件的安装密度大，拆卸比较麻烦，所以在检测时常常通过用万用表直流电压挡，去测量被测三极管各引脚的电压值，来推断其工作是否正常，进而判断其好坏。 (2)大功率晶体三极管的检测利用万用表检测中、小功率三极管的极性、管型及
测量接地电阻值时布线方法的要求
2024-10-30一、什么叫接地电阻？ 接地电阻就是说电流量由接地设备注入大地再经大地流入另一接地体或向远方外扩散所碰到的电阻，它包含接地线和接地体自身的电阻、接地体与大地的电阻中间的触碰电阻及其两接地体中间大地的电阻或接地体到無限远方的大地电阻。 接地电阻尺寸立即最能体现电气装置与“地”触碰的优良水平，也体现了接地网的经营规模。在点射接地系统软件、影响性好等标准下，能够选用打輔助地极的测量方法开展测量。接地电阻关键分下列三种。 1、维护接地：电器设备的塑料外壳，混泥土、电线杆等，因为绝缘层毁坏有可能感应起电，
电感测量装置制作方法
2024-10-25在电子制作和设计方案，常常会采用不一样主要参数的电感电磁线圈，这种电磁线圈的电感量不象电阻器那麼非常容易测量，一些数字万用表虽然有电感测量挡，但测量范畴很比较有限。该电路以串联谐振方式测量电感值，测量低限达到10nH，测量范畴很宽，能考虑一切正常状况下的电感量测量，电路构造简易，工作中靠谱平稳，合适于发烧友制做。 1 电路原理 电路基本原理如图所示1（a）图示。 图1简易电感测量设备电路图 该电路的关键元器件是集成化压控振荡器集成icMC1648，运用其压控特点在輸出3脚造成频率数据信号，可间
开尔文电桥是测量传感器电阻的最优解之一
2024-10-05问题：我需要确定一个低电阻传感器的电阻变化，我的计划只是在细线传感器引线上施加一个已知的电压，然后测量电流。然后通过欧姆定律（电阻=电压/电流或R=V/I），我可以很容易地计算传感器电阻。但是，传感器引线的标称电阻和温度系数会影响读数从而导致我无法校准的错误。该怎么办？ 解决方案：使用开尔文电桥来解决这个常见的问题。为此，使用电流源通过现有导线向传感器提供已知电流。然后在传感器上增加另外两条引线，通过高阻抗表或缓冲放大器读取传感器上的电压（图1）。再次使用欧姆定律，但使用已知电流和测量电压。在
测量漏感，为何短路次级绕组？
2024-10-05我们用电桥测试变压器漏感时，要短路副边，测试原边得到的电感量则为漏感。你有想过为什么要短路副边，这样测试的原理是什么? 如图是理想变压器，理想变压器遵循以下公式： V2 = N2/N1*V1 N2：副边的匝数 N1：原边的匝数 但实际中变压器总是不理想的，总有一部分磁通不参与能量传递，在原边兴风作浪，产生很多不利影响。这部分不传递能量到副边的磁通产生的电感就是漏感，实际变压器的等效图如下： 等效图中漏感总是绕组串联的。为了测量绕组的电感量，我们使用电桥施加一定的频率一定的电压进行测量，测量原理
电容测量的5个常见问题，你都能答对吗？请自测~
2024-10-04电容的测量 Q1 问：如何正确测量电容容量和耗散因子？ 答：正确测量的关键在于电表设置。详见表 1。 电压设置对于高电容容量的电容而言至关重要。对于某些电容表，如果施加到测试元件的电压不够，电容容量读数就会很低。 频率设置也很重要。由于电容容量随频率的变化而变化，因此行业标准将测试频率指定为 1MHz、1kHz 或 120Hz（请参见表 1）。 辨别 EIA II 类电容的老化现象同样重要。对于 II 类材料，电容容量会随时间而减小。因此，一项广为接受的行业惯例规定，在 加热（TOLH）后 1
使用数字源表测量二极管I－V特性，连接方法分析
2024-09-30一、概念： 二极管是两端口电子器件，支持电流沿着一个方向流动（正向压），并阻碍电流从反方向流动（反向偏压）。无论在研究实验室还是生产线，都要对封装器件或在晶圆上进行二极管I－V测试。 二、数字源表测量优势： 二极管I－V特性分析通常需要高灵敏电流表、电压表、电压源和电流源。对所有分离仪器进行编程、同步和连接，既麻烦又耗时，而且需要大量机架或测试台空间。 S型数字源表简化了测试，缩小机架空间，成为二极管特性分析的理想选择，因为它能够提供电流和电压的源和测量。 三、二极管I－V测试 二极管参数测试
如何测量随偏压变化的MLCC电容
2024-09-29设计人员往往忽略高容量、多层陶瓷电容(MLCC)随其直流电压变化的特性。所有高介电常数或II类电容(B/X5R R/X7R和F/Y5V特性)都存在这种现象。然而，不同类型的MLCC变化量区别很大。Mark Fortunato曾经写过一篇关于该主题的文章，给出的结论是：您应该核对电容的数据资料，确认电容值随偏压的变化。但如果数据资料中未提供这一信息又该如何呢？您如何确定电容在具体应用条件下变小了多少？ 对电容与偏压关系进行特征分析的理论 图1所示为一种测量直流偏压特性的电路。该电路的是运算放大器